天瑞EDX2000A膜厚测试仪
  • 天瑞EDX2000A膜厚测试仪
  • 天瑞EDX2000A膜厚测试仪
  • 天瑞EDX2000A膜厚测试仪

产品描述

元素检测范围13铝(Al)~92铀（U） 同时检测元素可同时分析24种元素，五层以上镀层 含量测试范围0.1%~99.9% 厚度范围≤50μm 检出限0.005μm 厚度标准偏差≤3% 探测器Fast-SDD探测器 探测器分辨率140±5ev X射线装置微焦斑W靶光管 检测时间5~40秒 外形尺寸485mm×588mm×505mm 仪器重量60kg 操作环境温度0~30℃，湿度≤70% 工作电源AC220V±5V
202404271614115580864.jpg202404031613061873144.jpg202404031613063776894.jpg
http://skyray17.b2b168.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第97488位访客

版权所有 ©2024 八方资源网 粤ICP备10089450号-8 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持： 八方资源网 八方供应信息 投诉举报 网站地图